MultiLane較新推出100G、400G光模塊測試應用

“光示波器ML4015D” 

具備性能、高性價比

高速測試儀表制造商 MultiLane 公司日前在美國加州弗里蒙特正式發布了較新光示波器產品 ML4015D，工作帶寬高達 40 GHz ，非常匹配100Gb/s、400 Gb/s光模塊測試。

該款產品具有如下特點：

● 能夠處理高達 53.1 G 波特率信號。

● 支持行業標準，比如400GBASE-DR4/FR4/LR4和100G Lambda MSA。

● 可以靈活適配PAM4和NRZ 信號。

● 集成56 Gbaud PAM4信號時鐘恢復模塊，簡化測試中的時鐘處理問題。

光信號質量測試一直是光模塊制造領域的瓶頸之一。MultiLane公司在開發ML4015D的過程中，關注關鍵痛點，持續改進提升，最終不負所望，于近日，正式向市場推出了這款具有高性價比的光示波器：

● 高性能：高靈敏度 (< -13 dBm @ 25.8 G NRZ)；低噪聲 (3 mW @ 26.6 GHz bandwidth)；測試速度快，支持100MHz采樣率, TDECQ測量時間<5s (以SSPRQ Pattern為例)

● 低成本：該款儀表定位高性價比產線測試，售價遠低于同類產品，免費提供全套分析控制軟件，測試速度快，較大降低光模塊產線測試成本

● 并行測試能力：ML4015D支持單通道/雙通道/四通道并行測試

● 支持多種速率：測量范圍涵蓋53.1 Gbaud PAM-4, 26.6 Gbaud PAM-4, 和 25.8 Gbps NRZ 等調制格式

● 滿足特殊測試需求：ML4015D可同時支持光采樣和電采樣輸入

● 小尺寸：儀表尺寸僅為8.9cm x 21.8cm x 30cm，節省產線測試工位空間。

ML4015D 光采樣示波器的發布，完善了MultiLane現有的基于BERT，互聯設備(評估板，環回模塊),和系統裕量測試儀等產品的光模塊測試解決方案。MultiLane已發布ML4039D和ML4079D, 分別對應4通道和8通道28Gbaud PAM-4 BERT，這些BERT可以驅動并測試光模塊和交換機的200G CAUI-4 和400G CAUI-8電接口性能。